高分子橋架發(fā)生故障時的判斷方法
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發(fā)布時間:
(1)當搖測電纜一芯或幾芯對地絕緣電阻,或芯與芯之間絕緣電阻低于100Ω時,為低電阻接地或短路故障。
(2)當搖測電纜一芯或幾芯對地絕緣電阻,或芯與芯之間絕緣電阻低于正常值很多,但高于100Ω時,為高電阻接地故障。
(3)當搖測電纜一芯或幾芯對地絕緣電阻較高或正常,應進行導體連續(xù)性試驗,檢查南京高分子橋架是否有斷線,若有即為斷線故障。
(4)當搖測電纜有一芯或幾芯導體不連續(xù),且經(jīng)電阻接地時,為斷線并接地故障。
(5)閃絡(luò)性故障多發(fā)生于預防性耐壓試驗,發(fā)生部位大多在電纜終端和中間接頭。閃絡(luò)有時會連續(xù)多次發(fā)生,每次間隔幾秒至幾分鐘。